能量色散型
X射線熒光分析儀滿足所有領(lǐng)域不同的應(yīng)用
電子電氣
1.RoHS指令、無鹵素等篩選分析;
2.半導(dǎo)體、存儲裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析;
汽車機(jī)械
1.應(yīng)對ELV指令的篩選分析;
2.各種機(jī)械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測;
鋼鐵非金屬
1.原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析;
2. 爐渣的組成分析;
在測定微量成分時(shí),由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,致使目標(biāo)峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調(diào)整出具感度的輻射,進(jìn)一步提高了S/N的比值,從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。
的分析性能
采用高性能的SDD檢測器,確保硬件*化,具有*的高靈敏度·高速分析和高分辨率??梢詸z測出6C~的機(jī)型正式上線(EDX-8000)。
高靈敏度提高檢測下限1.5~5倍,高性能的SDD檢測器與*化的光學(xué)系統(tǒng)和一次濾光片的組合,實(shí)現(xiàn)*的高靈敏度。從輕元素到重元素,全范圍輕松應(yīng)對。與采用傳統(tǒng)Si(Li)半導(dǎo)體檢測器的分析裝置相比,靈敏度也更勝*。
高速的分析速度zui大可提高10倍,SDD檢測器在單位時(shí)間X射線熒光的計(jì)數(shù)率高,因此能夠在更短的檢測時(shí)間內(nèi)進(jìn)行高精度分析。特別是對金屬材料的分析,這個(gè)特點(diǎn)可以得到zui大限度的發(fā)揮。