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拉曼光譜可以用來分析很多不同類型的樣品，通常包括以下種類：固體、粉末、液體、膠體、軟膏、氣體；無機(jī)材料、有機(jī)材料、生物材料；純物質(zhì)、混和物、溶液；一般來說，拉曼不適合分析以下樣品：金屬及其合金。拉曼光譜與紅外光譜都能獲得關(guān)于分子內(nèi)部各種簡正振動頻率及有關(guān)振動能級的情況，從而可以用來鑒定分子中存在的官能團(tuán)。但兩者產(chǎn)生的原理和機(jī)制都不同，在分子結(jié)構(gòu)分析中，拉曼光譜與紅外光譜相互補(bǔ)充，一些在紅外光譜無法檢測的信息在拉曼光譜能很好地表現(xiàn)出來。紅外光譜側(cè)重于檢測基團(tuán)，適用于極性鍵，多用...

X-Strata920系列鍍層測厚儀具有高性價(jià)價(jià)比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準(zhǔn)、測量時(shí)間短等特點(diǎn)；具有高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性，能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量，節(jié)約電鍍成本。工作原理：對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。膜厚測試儀的主要特點(diǎn)：1.材料鑒別和分類檢測，材料...

傅立葉變換紅外光譜儀是利用干涉譜的傅立葉變換技術(shù)獲得紅外光譜的紅外光譜法。與光柵色散型紅外分光光度計(jì)在單色器和檢測器部件上有很大的不同，它沒有色散元件，主要由光源（硅碳棒、高壓汞燈）、Michelson干涉儀、檢測器、電子計(jì)算機(jī)和記錄器等組成。主要特點(diǎn)：1.動態(tài)準(zhǔn)直技術(shù)和實(shí)時(shí)監(jiān)控：島津的高級動態(tài)準(zhǔn)直技術(shù)，實(shí)現(xiàn)儀器的自動準(zhǔn)直和實(shí)時(shí)準(zhǔn)直，確保儀器良好的短期穩(wěn)定性和長期穩(wěn)定性。同時(shí)，實(shí)時(shí)的儀器狀態(tài)監(jiān)控和自動診斷，以及可自動執(zhí)行的儀器性能確認(rèn)程序，讓用戶隨時(shí)對儀器狀態(tài)了然于心。2.尺...

島津EDX-7000/8000X射線管發(fā)出X射線照射樣品，樣品中所含的原子則向外發(fā)射原子*的X射線。這種X射線被稱為熒光X射線，各元素具有特定的波長（能量）。因此，通過檢測X射線的波長就能夠進(jìn)行定性分析。另外，熒光X射線的強(qiáng)度與濃度具有函數(shù)關(guān)系，檢測每個(gè)元素X射線特征波長的X射線量就能進(jìn)行定量分析。不同領(lǐng)域不同的應(yīng)用：1.汽車·機(jī)械：應(yīng)對ELV指令的篩選分析。各種機(jī)械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測。2.電子·電氣：RoHS指令、無鹵素等篩選分析。半導(dǎo)體、存...

UV-2600i研究級的分光光度計(jì)實(shí)現(xiàn)了超低雜散光，擴(kuò)展測定范圍至8Abs，透過率0.000001%。除了測定高濃度樣品不需要稀釋外，此系統(tǒng)還能用于評價(jià)偏振膜的透過率性能。設(shè)計(jì)更緊湊，使用更便捷。硬件確認(rèn)軟件可協(xié)助進(jìn)行裝置性能的檢查，并記錄檢查結(jié)果。之前作為選配的硬件確認(rèn)軟件已標(biāo)配于UV-2600i/2700i主機(jī)，因此在日常檢查或注重?cái)?shù)據(jù)精度時(shí)可容易地進(jìn)行儀器性能檢測。該儀器的設(shè)計(jì)改變了行業(yè)的測量觀念，致力于提供z簡潔、z靈活與速度快的操作。無需任何額外附件與成本，可以實(shí)現(xiàn)...

PCB（PrintedCircuitBoard）,中文名稱為印刷線路板，是電子元器件的支撐體，是電子元器件電氣相互連接的載體，具有高密度化、高可靠性、可測試性、可組裝性等一系列的優(yōu)點(diǎn)。幾乎每種電子設(shè)備，小到電子手表、計(jì)算器，大到計(jì)算機(jī)、通信電子設(shè)備，只要有集成電路等電子元件，為了使各個(gè)元件之間的電氣互連，都要使用印制板。目前印制板的品種已從單面板發(fā)展到雙面板、多層板和撓性板；結(jié)構(gòu)和質(zhì)量也已發(fā)展到超高密度、微型化和高可靠性程度；新的設(shè)計(jì)方法、設(shè)計(jì)用品和制板材料、制板工藝不斷涌現(xiàn)...

EDX-LE能量色散X射線分析是x射線能譜分析的一種儀器。在電子與物質(zhì)相互作用時(shí)，采用能聚焦的入射電子可以激發(fā)初級x射線，不同元素發(fā)射出來的特征x射線波長不同，能量也不同。利用x射線能量不同而展譜一般稱為x射線能譜分析或能量色散x射線分析，所用設(shè)備通常稱為能量色散譜儀。EDX-LE能量色散X射線分析主要單元是半導(dǎo)體探測器及多道脈沖高度分析器，用以將特征x射線按能量展i}}Er7，5的分辨率遠(yuǎn)不如波長色散譜儀，它有分析速度快的優(yōu)點(diǎn)，和通用的x射線波長色散譜儀相比可提高10倍，如...